【履歴】

登録日/内容/備考

2011.06.17/新規作成/無し

【目的】

機体が急激な温度変化で損傷しないか確認する。

【試験方法】

JIS C60068-2-14を基に試験を行う。

試験は機体を電源OFFで槽内に入れ、槽内の温度が各試験温度で安定した状態で

試験を開始する。 試験は高温さらしと低温さらしで1サイクルとする(Fig.1)。

Fig.1 1サイクル
Fig.1 1サイクル

【試験条件】

・試験台数:3台

・試験温度(高温):65℃

・高温さらし時間:70分

・試験温度(低温):-25℃

・低温さらし時間:30分

・サイクル数:100サイクル 

【判定基準】

・性能機能試験に合格すること

・外観に損傷が見られないこと

・基板(実装)に不具合が無いこと