登録日/内容/備考

2011.06.18/新規作成/無し

基板上のIC等がショートした場合の損傷具合を確認する

基板の消費電流の大きいIC又はトランジスタ、ダイオードの各端子を
オープン又は隣接する端子をショートし、電源を投入し状況を確認する。

試験台数：１台
動作：試験用にプログラムしたもの

・発火、発煙等、深刻な異常が発生しないこと